KOBRA-WR位相差測定裝置日本OSI王子計測機器

王子計測機器株式會社成立于1996年9月1日，主要進行計測機器的開發，制作。主要產品高分子計測機器，畫面處理機器，相差測定裝置等

測定對象：

■位相差薄膜、偏光板

■光盤

■液晶元件

■磁性用標準膠片

■收縮薄膜

■柔性LCD基板材料

用途：

■光學薄膜的研究開發，品質管理

■延伸薄膜の定向評價（3次元折射率、面配向度）

■包裝薄膜的熱收縮の熱収縮、抗扯性能評價

■液晶元件的旋角、波長分散特性評價

■光學原件的透射橢圓偏光評價

銷售領域：

■印刷行業

■橡膠行業

■制紙行業

■制藥行業

■食品行業

■金屬行業

■化學行業

通信地址（收貨地址）：

OSIA系列
操作簡單...圖像分析可以用*少的屏幕操作進行。
免費設計...我們根據用戶需求量身定制。

DA - 7000 
簡單的系統是高性能的！
任何人都可以處理的高性能專用機器。這是OSI圖像分析系統的概念

王子OSI計測機器：

王子OSI計測,BF-7D,物質分析儀,材料行業應用

王子OSI計測,BF-7S,多功能生物傳感器高精度分析儀

王子OSI計測，BF-7M,物質高精度分析儀

王子OSI計測，BF-48ASX,物質高精度分析儀

王子OSI計測，BF-30ASX2，物質高精度分析儀

王子OSI計測，BF-30ASX1，物質高精度分析儀

王子OSI計測，BF-96AS,物質分析儀

王子OSI計測，OLBIS，物質高精度分析儀

王子OSI計測，BF-MS,生物高精度分析儀

王子OSI計測，BFDC,生物高精度分析儀

王子OSI計測，BF-510,生物高精度分析儀

王子OSI計測，BF-3000,微生物分析儀器

王子OSI計測，DA-7000,通用圖像處理系統

王子OSI計測，APQS，打印機評價系統

王子OSI計測，APQS basic，打印機評價系統（簡易版）

王子OSI計測，DIP-2000,微異物測量裝置

王子OSI計測，KOBRA-HB,偏光板測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-W,偏光板測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-HBR，位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-HBR/SPC，位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-HBPR，偏光板軸角度測定儀

王子OSI計測，KOBRA-HBPR/SPC，偏光板軸角度測定儀

王子OSI計測，KOBRA-WPR，偏光板軸角度測定儀

王子OSI計測，KOBRA-WR,位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-WFD,位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-WX100,位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-WX100/IR,位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-WI,位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-WIS/RT,位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-CCD,微小面積位相差測定裝置

王子OSI計測，KOBRA-IMS,位相差分部測定裝置

王子OSI計測，SAPA，微小面積偏光解析裝置

王子OSI計測，KOBRA-WI/SPC,一般用位相差計

王子OSI計測，PAM-P100,偏光方位角測定器

王子OSI計測，PAM-IMS100,復屈折測定裝置

王子OSI計測，PAM-UHR100,超高位相差測定裝置

王子OSI計測，PAM-PTB100，偏光板軸測定裝置

王子OSI計測，PAM-PR300，光學軸測定裝置

王子OSI計測，MOA-6000,微波方式定向評價裝置